產品列表 / products
日本SANKO ULT-5000超音波式膜厚計 測定方式 超音波式パルス反射方式 測定範囲 0.5~6.0mm(探觸子、測定対象による) 表示分解能 0.01mm
日本SANKO SWT-8000N膜厚計 測定範囲 0~2.00mm 表示分解能 1μm:0~999μm 切替で 0.1μm:0~400μm 0.5μmμm:400~500μm 0.01mm:1.00~2.00mm
測定範囲 6~50% 1~100(MCモード) 表示分解能 0.1% 1(MCモード) モード切替 広葉樹(Hard)/針葉樹(Soft)、MCモード